MIA – 连续薄膜厚度测量仪
该仪表旨在精确持续在线测量金属箔的厚度。类型：MIA-1001；MIA-1001A
产品描述
公司拥有的微波技术内部没有电子元件、线圈和铁氧体，接触高耐受性传感器内。传感器绝对稳定，线性度小于0.01%，分辨率为0.1微米。因此，厚度测量仪在测量之前或之后无需归零，这往往会导致在接触之间有杂质时测量非常不准确。由于通过传感器主体冷却传感器和接触点，可以在250°C的温度下测量带的厚度，温度依赖性为≤1微米/200°C，无需加热测量头。用烧结钻石制成的测量接触点通常可以在重型环境中使用数十年而无需更换。
在条带上，滑块在操作位置的滑动是通过西门子的自动驱动系统采用气动系统完成的。永久接触被测条带的钻石接触器的设计确保它们不会损害材料的外观，并且具有长久的使用寿命。接触器对条带的气动推力可以不断地进行控制。
该连续测量仪被开发为一种绝对测量设备，无需机械重新调整被测带的名义厚度，其绝对测量能力也使其能够在生产过程中用于其他（例如无接触）量具的精确校准。
控制单元使能
- 7英寸触摸面板显示器上的数字厚度
- 柱状图显示与设定名义厚度的偏差
- 设定和监控下限和上限
- 仪表的数字校准
- AGC的模拟输出±20 mA（±10V；4-20 mA）
- PROFINET（PROFIBUS等）的串行数据输出
- 控制移动头进入条形线
优点
- 测量厚度的绝对数字显示
- 所测材料类型的独立性
- 计量头对标称厚度不进行机械调节
- 简单操作
- 对钻石接触器提供5年保修
技术数据
| Parameter | MIA |
|---|---|
| 类型 | 自动或手动 |
| 解决方案 | 0,0001 mm (0,00001″) |
| 测量范围 | 0,001 - 4 mm (0,00004″- 0,16″) |
| 准确性 | ≤ 0.5 μm; ≤ 1 μm (> 2 mm) ≤ 0,00002″; ≤ 0,00004″ (>0,08″) |
| 测量深度 | ≤ 100 mm (4″) |
| 最大剥离速度 | 600 m/min (2000 ft/min) |
| 最大带材温度 | 250°C (482°F) |
| AGC 的输出 | ± 20 mA (± 10 V, 0-20 mA, 4-20 mA) |
| 数据输出 / 设置 | Profinet (Profibus 或根据要求) |
HMI触摸屏显示器
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- 绝对厚度和偏差的数字显示及条形图
- 过去2分钟的趋势图
- 设置名义值和限制或选择最后的预设值
- 可选分辨率 1 微米 – 0.1 微米 – 0.01 毫
- 简单的校准和服务菜单与诊断功能
- 维护的清晰状态信息
- 自动设置转移到/从SPC系统或上级PLC
- 通过工业网关或共享电脑进行互联网远程支持
可选配件
- 具有统计处理的工业计算机 PP-VISUAL
视频
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